Microscópio de Varredura, Feixe Duplo, Eletrônico e Iônico - Quanta 3D FEG - Thermo Fisher / FEI
O microscópio de feixe duplo FEI Quanta 3D FEG é equipado com um canhão de emissão campo (FEG – Field Emission Gun), que permite a utilização estável de grandes densidades de corrente de feixe e uma alta resolução (em torno de 1 nm).
Além do detector de elétrons secundários (do tipo ETD), que proporciona análise da morfologia superficial da amostra, o microscópio conta com detector de elétrons retroespalhados (BSE) que permite análise qualitativa da composição química local.
O microscópio conta ainda com um canhão de íons focalizados (FIB) para produção de lamelas para MET ou amostras para análise em seção transversal por MEV.
- Canhão de emissão campo com resolução de aproximadamente 2 nm.
- Faixa de magnificação 100x – 500kx
- Tensão de aceleração: 500 V – 30 kV
- Corrente de prova: 1 pA – 200 nA
- Coluna Sidewinder de feixe de íons de Ga focalizado
- Tensão de aceleração 5 kV – 30 kV
- Detector de elétrons secundários Everhart-Thornley (ETD)
- Detector de elétrons retroespalhados (BSE)
- Detector de estado sólido para microscopia eletrônica de transmissão em varredura e baixa tensão de aceleração
- Agulha injetora de gás organometálico (Pt)
- Agulha injetora de gás organometálico (C)
- Agulha nano-manipuladora Omniprobe
- Estágio motorizado XYZ com rotação e inclinação.
Coordenação:
Prof. Wagner Nunes Rodrigues
Microscopistas:
Henrique Limborço
Wesller Schmidt
Email:
Sessão remota:
Microscópio de Varredura, Feixe Duplo, eletrônico e iônico – FEI Quanta 3D FEG
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