Microscópio de Varredura por Sonda e Nanoidentador - MFP-3D-SA - Asylum Research
O microscópio MFP-3D fornece imagens de topografia da superfície sendo capaz de quantificar a rugosidade da superfície das amostras em escala nanométrica.
Além da imagem da superfície é possível obter medidas nas 3 dimensões, XYZ.
Modos avançados permitem o mapeamento qualitativo de várias outras propriedades físicas, como módulo de elasticidade, potencial de superfície, campo elétrico e domínios magnéticos.
- Faixa de varredura limitada a 90 µm, lateralmente (xy), e 30 µm verticalmente (z).
- Tamanho da amostra limitado a 5 cm x 5 cm e 1,0 cm de espessura.
- Não se aplica a amostras extremamente ásperas (rugosidade acima de alguns µm).
- A interação sonda-amostra pode induzir modificações da amostra e/ou das imagens.
- Modos elétricos e magnéticos limitados a medições qualitativas ou semiquantitativas.
O microscópio MFP-3D conta com o acessório de nanoindentação, a partir do qual é possível determinar o módulo de elasticidade (10 MPa a 100 GPa) e a nanodureza de materiais.
Coordenação:
Prof. Bernardo R. A. Neves
Microscopistas:
Douglas A. A. Ohlberg
Jéssica A. de Paula
Maurício V. Bessa
Email:
Sessão remota:
Microscópio de Varredura por Sonda – ASYLUM RESEARCH MFP-3D-SA
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