Lamela pinçada de uma rede de Difração fabricada por feixe de íons de gálio para detectores de Infravermelho.
Equipamento: Microscópio de feixe duplo FEI Quanta 3D FEG
Imagem obtida por Wesller Schmidt, Centro de Microscopia da UFMG.
Descrição da Imagem
Equipamento: Microscópio de feixe duplo FEI Quanta 3D FEG
Imagem obtida por Wesller Schmidt, Centro de Microscopia da UFMG.