Padrão de difração de elétrons de feixe convergente de grande ângulo obtido na direção [111] do silício.
Equipamento: Microscópio Eletrônico de Transmissão Tecnai G2-20-SuperTwin FEI 200kV
Imagem obtida por obtida por Erico Tadeu Fraga Freitas, CM-UFMG.
